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Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Gold Plated Spring Test Probe

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Lieu d'origine:

Chine

Nom de marque:

WINNER

Certification:

ISO9100

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Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications
Détails de produit
Nom du produit:
sonde d'essai de ressort
baril:
PB, plaqué or
Plongeur inférieur:
BeCu/SK4, plaqué or
Plongeur SUPÉRIEUR:
Alliage Pd/Non Plaqué
PRINTEMPS:
SWPB(SUS)/plaqué or
Disponibilité:
Tailles personnalisées disponibles
Revêtement:
Plaqué or
Note actuelle:
1A
Résistance des contacts:
100 Mohm maximum
Bande passante:
-0,17 dB à 19,6 GHz
inductance:
1,25nH
Capacité:
1,61pF
Coup complet:
1,00 mm
Traction nominale:
0,65 mm
Force de ressort:
30 grammes @ o.65 mm
La durée de vie mécanique dépasse:
200K
Mettre en évidence:

Gold Plated Spring Test Probe

,

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

,

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Conditions de paiement et d'expédition
Quantité de commande min
3000pcs
Prix
999
Détails d'emballage
Emballage neutre ou avec un logo OEM
Délai de livraison
5-8 jours ouvrables
Conditions de paiement
LC, Western Union, T/T
Capacité d'approvisionnement
100000 rouleaux par mois
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Description de produit
High Efficiency BGA Testing Probes
Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications.
Key Product Features
  • Ultra-Fine Precision: 0.11 mm plunger and 0.15 mm barrel for micro-pitch PCB pads, IC leads, flex circuits, and semiconductor testing
  • High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
  • Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
  • Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
  • Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory
Production Specifications
Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications 0
Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications 1
Product Images
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Detailed Component Illustration
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Comparison of different test probe tip types and configurations
Customization Options
SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:
  • Custom diameters to match your specific requirements
  • Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
  • Custom mechanical specifications tailored to your application
All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.
Manufacturing Process
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Our probe manufacturing facility
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Quality control inspection
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Packaged probes ready for shipment
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Électronique en fils de tungstène plaqués or

0R & D sur des fils de tungstène de 0

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