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Dual-Head High-Frequency IC Test Probe YF DE1-051DF57-01C0

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Pinceau de contact en laiton de haute qualité pour appareil électronique à 4 broches

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Épinette de contact à ressort pour sonde à double tête pour les essais de circuits intégrés

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Probe de ressort plaqué or avec courant nominal de 2A et tailles personnalisées pour les tests de PCB

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Probe de ressort plaqué or avec courant nominal de 2A et tailles personnalisées pour les essais IC

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Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0

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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Precision Testing

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Fil de tungstène plaqué or Fil d'or de tungstène Fil d'or de tungstène Electrode d'or de tungstène Fil d'or plaqué or enduit Fil de tungstène

Détails d'emballage: Vide + carton

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High Quality Switch Contact Pin Test Probe YF DE1-048DD130-01C0

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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Precision Semiconductor Testing

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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

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Probe de détection des broches de contact des interrupteurs de haute qualité YF DE1-038BF32-01C0

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Probe de ressort de haute durabilité plaquée or

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Double piston, sonde d'essai pour les composants à haute résistance.

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Sonde de test à ressort haute durabilité plaquée or | Broche Pogo de tailles personnalisées pour les tests électroniques

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Probe de ressort plaquée or avec courant nominal de 1A et tailles personnalisées pour les essais BGA

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