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Probée de test IC à haute fréquence à double tête YF DE1-051DF57-01C0

Probée de test IC à haute fréquence à double tête YF DE1-051DF57-01C0

Sonde d'essai IC à double tête

Problème de ressort à haute fréquence

Problème YF DE1

Lieu d'origine:

Chine

Nom de marque:

WINNER

Certification:

ISO9100

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Détails de produit
Nom du produit:
sonde d'essai de ressort
baril:
PB, plaqué or
Plongeur inférieur:
BeCu/SK4, plaqué or
Plongeur SUPÉRIEUR:
SK4 (Be Cu)/plaqué or
PRINTEMPS:
SWPB(SUS)/plaqué or
Disponibilité:
Tailles personnalisées disponibles
Revêtement:
Plaqué or
Note actuelle:
2A
Résistance des contacts:
100 Mohm maximum
Bande passante:
-0,85 dB à 19,6 GHz
inductance:
1,27nH
Capacité:
1,62pF
Coup complet:
1,0 mm
Traction nominale:
0,65 mm
Force de ressort:
25 grammes à 0,65 mm
La durée de vie mécanique dépasse:
200K
Mettre en évidence:

Sonde d'essai IC à double tête

,

Problème de ressort à haute fréquence

,

Problème YF DE1

Conditions de paiement et d'expédition
Quantité de commande min
3000pcs
Prix
999
Détails d'emballage
Emballage neutre ou avec un logo OEM
Délai de livraison
5-8 jours ouvrables
Conditions de paiement
LC, Western Union, T/T
Capacité d'approvisionnement
100000 rouleaux par mois
Description de produit
Probe de détection des broches de contact des interrupteurs de haute qualité YF DE1-051DF57-01C0
Des broches d'essai semi-conducteurs à ressort de précision conçues pour des performances fiables dans des applications d'essai exigeantes, dotées de capacités d'essai BGA à haut rendement.
Principales caractéristiques du produit
  • Plaquage par or à haute conductivité:Le piston et le canon plaqués en or assurent une faible résistance au contact et une transmission stable du signal
  • Des styles de pointe multiples:Disponible en pointe B (60° cône), pointe U, pointe D et géométries entièrement personnalisées
  • Structure de ressort durable:Le ressort en acier inoxydable (matériau SUS) assure une course de travail stable et une force de contact fiable
  • Fabrication sur mesure:OEM/ODM accepté avec une livraison rapide de notre usine
Images du produit
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Probée de test IC à haute fréquence à double tête YF DE1-051DF57-01C0 1
Probée de test IC à haute fréquence à double tête YF DE1-051DF57-01C0 2
Illustration détaillée des composants
Probée de test IC à haute fréquence à double tête YF DE1-051DF57-01C0 3
Comparaison des différents types et configurations de pointe de sonde d'essai
Options de personnalisation
SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offre une personnalisation complète pour nos sondes d'essai de ressort en acier inoxydable à baril de laiton:
  • Diamètres personnalisés pour répondre à vos besoins spécifiques
  • Épaisseurs de revêtement sur mesure pour une conductivité et une durabilité optimales
  • Spécifications mécaniques personnalisées adaptées à votre application
Tous les produits incluent une documentation de traçabilité des matériaux et un certificat d'analyse pour assurer la qualité.
Processus de fabrication
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Notre usine de fabrication de sonde
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Inspection du contrôle de la qualité
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Probes emballés prêts à être expédiés

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