Lieu d'origine:
Chine
Nom de marque:
WINNER
Certification:
ISO9100
Numéro de modèle:
PW-12
Alors que les pressions sur les coûts dans l'industrie des semi-conducteurs continuent d'augmenter et que les exigences en matière d'encapsulation avancée deviennent plus strictes, la sélection des matériaux subit un changement structurel.
Le fil d'or pur perd progressivement sa position dominante en raison de son coût de matière première élevé et volatil.
Le fil de cuivre nu présente des risques d'oxydation plus élevés, ce qui peut avoir un impact négatif sur la stabilité du collage et la fiabilité à long terme.
Dans ces conditions de marché, le fil de cuivre plaqué au palladium (PCC) est apparu comme le juste équilibre entre l'efficacité des coûts et la performance de fiabilité.
Aujourd'hui, les principales entreprises mondiales d'encapsulation de semi-conducteurs adoptent largement le fil de cuivre plaqué au palladium comme matériau de collage principal, en particulier dans les applications nécessitant une fiabilité élevée, une capacité de pas fin et une performance intermétallique stable.
Le revêtement ultra-mince de palladium forme une couche protectrice dense et stable sur la surface du cuivre, réduisant efficacement le risque d'oxydation pendant le stockage, la manipulation et les processus de collage à haute température. Cela améliore considérablement la fiabilité à long terme par rapport au fil de cuivre nu.
Avec un cœur en cuivre de haute pureté, le fil de cuivre plaqué au palladium conserve une conductivité électrique exceptionnelle, garantissant une transmission de signal efficace et une faible résistance électrique dans les interconnexions de semi-conducteurs.
Le fil de cuivre plaqué au palladium offre un remplacement très compétitif pour le fil de collage en or en réduisant considérablement les coûts des matériaux tout en maintenant des performances de collage et une fiabilité comparables.
Comparé au fil d'or traditionnel, le fil de cuivre plaqué au palladium offre une résistance à la traction plus élevée et une meilleure stabilité de boucle, ce qui le rend adapté aux conceptions d'encapsulation à pas fin, haute densité et faible hauteur de boucle.
La couche de palladium aide à réguler la formation de composés intermétalliques à l'interface de collage, réduisant la croissance excessive d'IMC et minimisant le risque de fracture fragile sous contrainte thermique.
Le fil de cuivre plaqué au palladium démontre d'excellentes performances dans des environnements à haute température et haute humidité (par exemple, tests à 85°C / 85% HR), ce qui le rend idéal pour l'électronique automobile, les dispositifs de puissance et les applications à haute fiabilité.
Le matériau est compatible avec les systèmes de collage automatique standard, permettant une intégration transparente dans les lignes d'encapsulation de semi-conducteurs existantes sans modifications majeures du processus.
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